ELABORATION ET ETUDE DES MATERIAUX CHALCOPYRITES AIBIIIC2IV : LE DISELINURE DE CUIVRE ET D’INDIUM | ASJP

Sciences & technologie. A, sciences exactes
Volume 0, Numéro 25, Pages 15-18
2007-06-30

Elaboration Et Etude Des Materiaux Chalcopyrites Aibiiic2iv : Le Diselinure De Cuivre Et D’indium

Auteurs : Mehdaoui S . Aissaoui O . Benslim N . Benabdesslem M . Bechiri L . Mahdjoubi L .

Résumé

L’étude structurale de la poudre, CuInSe2 (CIS) obtenue par fusion des éléments (Cu, In et Se), du composé dans une ampoule de quartz a montré que la chalcopyrite est dominante avec une orientation préférentielle (112). Des couches minces du composé CIS élaborées par évaporation sur des substrats en verre présentent des coefficients d’absorption () élevées de l’ordre de 5.104 cm-1. Le tracé de la fonction (h)2 des couches minces recuites sous vide à différentes températures en fonction de l’énergie des photons incident a mis en relief la nature directe de la transition fondamentale est a permis également de calculer le gap Eg = 1.04 eV.

Mots clés

Semi-conducteurs, Chalcopyrite, couches minces, CuInSe2, Photovoltaïque.

Chemical Bonding In Cualx2 With X= S, Se And Te Chalcopyrites Based On Structural Elastic And Electronic Properties

Medkour Youcef . Djeghloul Fatima Zahra . Kheloufi Slimane . Saoudi Amer . Reffas Mounir . Haddadi Khelifa . Messalti Abdelghafour Said .
pages 50-62.

Elaboration Et Caracterisation Numerique Des Materiaux Auxetiques A Coefficient De Poisson Negatif.

Cherief Moncef . Daoud Ismail . Kaoua Sidali . Bouzegzi Nouredine . Rezzouge Amine .
pages 49-54.

Elaboration Et Caractérisation Des Matériaux Binaires Cuxs Et Ag2s élaborés Par La Technique Silar Pour Couche Tampon De Cellule Solaire à Base De Couche Absorbante Cis

Adnane M. . Sahraoui T. . Abderrahmane A. . Hamzaoui S. . Chaumont D. .
pages 625-632.

Elaboration Et Caractérisation D’un Matériaux Composites à Base De Résine Polyester Insaturée (upr) Renforcée Avec La Perlite

Dehas Ouided . Babouri Laidi . Biskri Yasmina .
pages 1-16.

Elaboration D'un Dispositif De Mesure Des Proprietes Electriques Des Materiaux Et Mesure De La Resistivite De Cuf) En Fonction De La Temperature

Abadlia L. . Mayoufi M . Benmoussa A. .
pages 3-10.